D8-ADVANCE X射线衍射仪，可在室温至1600℃范围内对材料的物相结构及晶胞参数进行分析与测定，用于分析材料的相变结构、残余应力的变化规律及标定腐蚀产物的类别，为材料的工艺改进及失效分析提供依据。

一、仪器信息

仪器名称：X射线衍射仪

生产制造商：德国Bruker（布鲁克）公司

型号：D8-ADVANCE

二、主要技术参数

1. 陶瓷X射线光管：Cu靶，2.2 kW；

2. 测角仪：θ/θ扫描方式 ， 最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°

3. 探测器：一维阵列式LynxEye XE-T 探测器，能量分辨优于380eV，探测器面积：14.4×16 mm，通道数：2880

4. 测量范围（2θ）：0.5°～130°

5. 样品台：旋转样品台

三、应用领域

广泛应用于材料科学、机械、能源、生物制药等领域的研究。 

四、服务范围

1. 可用于物相鉴定、晶胞参数测定、结构分析等；

2.借助附件进行原位高温测试（室温~1600℃直热），观察各个温度梯度下物相情况。